feed-image RSS
15 juni 2009

Lading van een enkel atoom direct gemeten

Let op: opent in een nieuw venster PDFAfdrukken

Wetenschappers van IBM (Zurich), de Universiteit Utrecht en de Universiteit van Regensburg in Duitsland hebben voor het eerst de ladingstoestand van één atoom direct gemeten met een atomic force-microscoop (AFM). De onderzoekers konden neutrale atomen van negatief en positief geladen atomen onderscheiden. Ze publiceren hun resultaten in het tijdschrift Science.

Deze ontwikkeling schept nieuwe mogelijkheden voor het verkennen van nanostructuren en minuscule schakelingen en kan invloed hebben op onderzoeksgebieden als moleculaire elektronica, katalyse en zonneceltechnologie, aldus Universiteit Utrecht.

Voor hun metingen combineerden de onderzoekers een zogenaamde atomic force-microscoop met een scanning tunneling-microscoop in vacuüm bij 265 graden onder nul. Ze bepaalden de ladingstoestand van geladen goud- en zilveratomen door het kleine krachtverschil te meten tussen het atoom en de punt van de atomic force-microscoop.

De nieuwe techniek is onder andere belangrijk voor chemisch onderzoek. "Hiermee kunnen we straks direct meten hoe de lading in moleculen verdeeld is. Dat is cruciaal om hun gedrag te begrijpen", aldus Peter Liljeroth, scheikundig onderzoeker aan de Universiteit Utrecht.

Bron Universiteit Utrecht
Reactie (0)Add Comment

Reageer
U moet ingelogd zijn om een reactie te geven. U kunt hier inloggen of hier registreren.

busy

Toegang archief

Gratis voor abonnees






activeer_uw_inlog

Advertentie

Meer Product

Volg ons nu ook op Follow vakbladproduct on Twitter en

linkedin!

Aanmelden nieuwsbrief

Meld u nu aan voor de gratis digitale nieuwsbrief. Blijf maandelijks op de hoogte van actuele ontwikkelingen in de sector.

Winkelmandje

Uw mandje is momenteel leeg.